jesd22高加速应力试验箱用于评估非气密性封装ic器件(固态设备)在高温高湿条件下的运行可靠性,对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压(不偏压)高加速应力寿命老化试验。
相关实验标准:
gb/t2423.40、iec60068-2-66、iec 60749-4、iec62506、jesd22-a102e、jesd22-a110e、jesd22-a118b、jeita ed-4701/100a、aec-q100-rev-h
技术参数:
试验要求说明:
1.jesd22-a101-c:稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)
试验条件包括:温度,相对湿度,和元件加偏压的时间
常用测试条件:85℃±2/85%r.h±5/7.12psia(49.1kpa)/8ma/1000h
2.jesd22-a110 :hast高加速温湿度应力试验
常用测试条件:
130℃±2/85%r.h±5/33.3psia(230kpa)96h和110℃±2/85%r.h±5/17.7psia(122kpa)264h
3.jesd22-a118:温湿度无偏压高加速应力实验uhast(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
试验条件包括:温度,相对湿度,蒸汽压力和时间
常用测试条件:
130℃±2/85%r.h±5/33.3psia(230kpa)96h(264h)和110℃±2/85%r.h±5/17.7psia(122kpa)264h(96h)样品数25ea/lot,3lots
4. jesd22-a102-e:pct高压蒸煮试验
5. jesd22-a102-d:pct无偏压高压加速抗湿性试验
试验条件包括:温度,相对湿度,蒸汽压力和持续时间
常用测试条件:121℃±2/100%r.h/29.7psia(205kpa)/24h,48h,96h,168h,240h,336h
如有jesd22高加速应力试验箱的选型疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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